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評(píng)價(jià)信息:
影響因子:0.24
總被引頻次: 327
封面文章封裝組裝與測(cè)試電路設(shè)計(jì)微電子制造與可靠性產(chǎn)品應(yīng)用與市場(chǎng)
a.稿件應(yīng)包括以下信息:文章標(biāo)題、中文摘要。
b.摘要應(yīng)全面概括論文的主要內(nèi)容,明確反映作者的主要觀點(diǎn),不能僅僅籠統(tǒng)地介紹論文的思路和結(jié)構(gòu),避免使用“本文主張”“筆者認(rèn)為”等評(píng)價(jià)方式。關(guān)鍵詞應(yīng)為反映論文核心內(nèi)容的專業(yè)術(shù)語,一般3至5個(gè)。
c.作者在投稿時(shí)請(qǐng)注明作者姓名、工作單位、作者簡介、聯(lián)系方式(郵箱和手機(jī)號(hào)碼、收件地址等)。
d.標(biāo)題序號(hào)按照“一”、“(一)”、“1”、“第一”或“首先”順序排列,一般不用“①”號(hào)。根據(jù)文章具體內(nèi)容,序號(hào)可適當(dāng)減少,但不可反順序使用。
e.參考文獻(xiàn)中的作者,1~3名全部列出,3名以上只列前3名,后加“,等.”,外文作者名應(yīng)與PubMed數(shù)據(jù)庫一致。
電子與封裝雜志月刊知識(shí)豐富,內(nèi)容廣泛,貼近大眾,自2002年創(chuàng)刊以來廣受好評(píng),注重視角的宏觀性、全局性和指導(dǎo)性,在業(yè)界形成了一定影響和良好口碑。
電子與封裝雜志主要欄目有:封裝、組裝與測(cè)試、電路設(shè)計(jì)、電子制造與可靠性等。
雜志被引次數(shù)
雜志發(fā)文量
2012 2013 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022
本刊文章見刊的年份
在2012年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2013年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2014年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2015年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2016年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2017年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2018年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2019年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2020年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2021年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
本刊文章見刊的年份
在2022年的被引次數(shù)
被本刊自己引用的次數(shù)
被引次數(shù)的累積百分比
用于高速電荷域ADC的電荷比較器設(shè)計(jì)
基于抗輻照技術(shù)的DDS電路設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
一種S波段薄片型TR組件的設(shè)計(jì)
銦鎵砷與金屬接觸形貌異常分析和改進(jìn)
0.13μm全耗盡絕緣體上硅晶體管單粒子效應(yīng)仿真研究
基于248 nm掃描光刻機(jī)工藝的0.15μm GaAs單片限幅低噪聲放大器
Nikon光刻機(jī)激光步進(jìn)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)研究
《電子與封裝》雜志征稿啟事
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